在色譜定量分析中，出現(xiàn)色譜峰形異變或鬼峰，不但嚴(yán)重影響定量精度，甚至使分析工作無法進(jìn)行，因此我們把15種常見異變峰形原因加以分析，并給出可能原因，供色譜工作者參考。

  我們?cè)诖擞懻摰姆逍萎愖兪侵冈谏V分析方法確定后，與曾經(jīng)記錄的已知色譜圖比較時(shí)，出現(xiàn)某些色譜峰形的偏離畸變或多余峰。

在懷疑峰形異變尋找可能原因、排除方法之前先做以下工作：

仔細(xì)核查操作條件，與分析方法要求是否一致；

和當(dāng)初分析所存的標(biāo)準(zhǔn)色譜圖對(duì)照，判斷是否真出了問題；

逐項(xiàng)仔細(xì)觀察儀器或設(shè)備工作狀態(tài)，看有無操作失誤而引起的出峰失常。

然后在依據(jù)以下15種異常峰形分析可能原因與排除方法。

1．臺(tái)階峰

（1）TCD熱絲被樣品中所含鹵素、氧、硫等元素腐蝕；

（2）氣體流量突變?nèi)纾鹤⑸鋲|突然漏氣，氣路受阻等；

（3）記錄色譜峰裝置故障如：拉線松；

2．負(fù)峰

（1）TCD用氮做載氣，由于待測(cè)組分在N2中濃度不同，熱傳導(dǎo)值呈現(xiàn)非線性而可能 出現(xiàn)負(fù)峰,有時(shí)可以通過改變載 氣流量或進(jìn)樣量克服；

（2）操作ECD時(shí)進(jìn)樣量過大而出負(fù)峰，這是由于工作原理由電子捕獲轉(zhuǎn)變?yōu)殡婋x檢測(cè)，此時(shí)靈敏度還會(huì)大大降低；

（3）操作FID，低電離效率的溶劑（如CS2）或雜質(zhì)出現(xiàn)，使原基流較高的輸出基線減小而顯示為負(fù)峰；

（4）操作FID，在無極化電壓，樣品量較大可能出現(xiàn)負(fù)峰；

（5）操縱NPD、FPD時(shí)氣流比不合適，溶劑或某些組分會(huì)出現(xiàn)負(fù)峰；

3."N" 或 “W”峰

（1）TCD操作，用N2作載氣由于熱傳導(dǎo)率非線性引起；

（2）FID操作時(shí)，樣品溶劑電離效率低（如CS2），或氣流比欠佳時(shí)；

（3）ECD操作時(shí)，由于檢測(cè)器被污染，溶劑峰或待測(cè)組分含量較高，或脈沖電源有毛病；

4．舌頭峰（前延峰）

（1）汽化溫度偏低；

（2）載氣流量小：

（3）進(jìn)樣量大，汽化時(shí)間長；

（4）汽化室被污染，樣品有吸附效應(yīng)；

（5）樣品在柱頭有冷凝或色譜柱被污染；

（6）進(jìn)樣技術(shù)差（揮發(fā)性組分的進(jìn)樣速度太慢）；

（7）峰前出現(xiàn)了“鬼”峰。

5．拖尾峰

（1）色譜柱安裝不合格，樣品不能以“塞子”形進(jìn)入色譜柱，柱與檢測(cè)器安裝的死體積太大；

（2）樣品未能注射入柱頭中（柱頭進(jìn)樣方式）；

（3）汽化管沒有安裝好或破損，樣品只能脫尾進(jìn)入色譜柱；

（4）化室的溫度低或偏高；

（5）載氣流量偏低；

（6）進(jìn)樣量大；

（7）載氣系統(tǒng)（如注射墊處）有漏氣；

（8）進(jìn)樣器（汽化室），被樣品中高沸點(diǎn)雜質(zhì)或注射墊殘?jiān)廴荆?/span>

（9）色譜柱被污染至使被分析組分和高沸點(diǎn)污染物作用；

（10）補(bǔ)充氣未開或偏低；

（11）色譜柱溫度偏低或失效；

（12）甲烷化Ni催化劑失效；

（13）進(jìn)樣技術(shù)差（如速度不合適）；

（14）正好有干擾峰（鬼峰）出現(xiàn)（如誤用被污染的注射針）；

（15）無極化電壓（FID），此時(shí)伴隨靈敏度偏低；

（16）樣品前處理有毛病；

6．出峰后基線下移

（1）樣品量大，特別是溶劑改變了工作狀態(tài)；

（2）FID被污染狀況發(fā)生改變，或氣流比發(fā)生變化；

（3）系統(tǒng)出現(xiàn)漏氣，或出現(xiàn)堵塞；

（4）色譜柱被污染；

（5）樣品處理不當(dāng)，如：樣品中有些物質(zhì)和固定相發(fā)生作用；

7．程序升溫時(shí)基流增加（漂移大），噪聲增加

（1）色譜柱需重新老化或失效；

（2）新?lián)Q載氣純度欠佳；

（3）過濾器失效；

（4）樣品前處理不當(dāng)，如：雜質(zhì)干擾物太多；

（5）靈敏度太高。

（6）數(shù)據(jù)處理裝置的判峰參數(shù)設(shè)置不合理。

8．圓頂寬峰

（1）樣品量大起出了色譜柱容量；

（2）汽化溫度低；

（3）色譜柱沒按要求安裝；

（4）檢測(cè)器工作狀態(tài)不對(duì)，如載氣太小、沒開補(bǔ)充氣；

（5）數(shù)據(jù)處理裝置的判峰參數(shù)（半峰寬）設(shè)置偏大；

9．平（未到滿量程）

（1）樣品量大，放大器量程高，衰減大，信號(hào)輸出飽和；

（2）檢測(cè)器已工作在飽和區(qū)；

（3）數(shù)據(jù)處理輸入信號(hào)極性接錯(cuò)，或零點(diǎn)失調(diào)；

10．基線出現(xiàn)波浪狀峰

（1）高靈敏度操作儀器未穩(wěn)定之前；

（2）操作TCD、ECD時(shí)，柱箱或檢測(cè)器箱溫度周期變化；

（3）環(huán)境溫度對(duì)儀器控溫影響；

（4）電壓不穩(wěn)，對(duì)柱溫控制精度影響；

（5）過溫保護(hù)設(shè)置低于控制溫度；

（6）壓力（流量）調(diào)節(jié)閥失調(diào)，周期變化；

11．原來能分開的峰分不開

（1）色譜柱安裝不合要求 ；

（2）色譜柱被污染，需重新活化 ；

（3）色譜柱壽命已到，需更換；

（3）新更換的氣源，純度不佳；

（4）濾器失效，重新老化或更換；

（5）色譜柱溫度和載氣流量需要微調(diào)優(yōu)化（色譜分析一般允許）；

（6）檢測(cè)器工作狀態(tài)變化（如ECD漏氣、FID氣流比欠佳）；

（7）汽化室被污染，注射墊漏氣；

（8）樣品處理不當(dāng)，雜質(zhì)干擾物太多；

（9）樣技術(shù)太差；

（10）進(jìn)樣量超出了色譜柱容量；

（11）數(shù)據(jù)處理的判峰參數(shù)，半峰寬或斜率設(shè)置不合理；

（12）放大器量程或衰減設(shè)置失誤；

12．直角峰

（1）儀器輸出負(fù)信號(hào)超出了數(shù)據(jù)處理的范圍；

（2）數(shù)據(jù)處理裝置零點(diǎn)未校正，或量程設(shè)置太大無法判斷基線位置；

（3）數(shù)據(jù)處理裝置輸入信號(hào)極性接反，零點(diǎn)設(shè)置不對(duì)；

13．帶毛刺峰

（1）儀器工作不穩(wěn)定，噪聲大于要求；

（2）數(shù)據(jù)處理裝置的判峰參數(shù)，半峰寬和斜率設(shè)置太小；

（3）極化電壓（FID）不穩(wěn)；

14．操作條件未變，原來能判別的峰不見了

（1）色譜柱被污染或失效；

（2）氣路系統(tǒng)被污染（如氣源純度低，過濾器失效）；

（3）注射墊漏氣；

（4）注射針密封性差；

（5）數(shù)據(jù)處理的判峰參數(shù)，如：半峰寬和斜率設(shè)置偏大；

（6）進(jìn)樣方法不對(duì)；

15．“鬼峰”（怪峰，多余峰，記憶峰）

（1）上一次進(jìn)樣的高沸點(diǎn)雜質(zhì)峰自然流出；

（2）載氣不純過濾器失效使低沸點(diǎn)的污染物冷凝在色譜柱頭，程序升溫時(shí)正常流出；

（3）注射墊未經(jīng)老化或無隔墊清洗而出的污染峰；

（4）汽化溫度太高或嚴(yán)重污染至使樣品某些組分分解；

（5）樣品某些組分與被污染固定相產(chǎn)生了作用；

（6）色譜柱溫度太高固定相分解；

（7）使用了被污染的注射針（ 本身不合格，手摸或進(jìn)過易污染的樣品）；

（8）樣品予處理不完善或用錯(cuò)溶劑；

（9）樣品中有空氣；

（10）TCD、ECD等密封性差（漏氣）；

（11）電源不穩(wěn)，對(duì)控溫或放大器有不良影響

（12）色譜柱堵塞物使用不當(dāng)，如玻璃棉未按要求進(jìn)行處理；